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短波長X射線體應(yīng)力無損分析儀研制成功

  • 發(fā)布時間：2015-10-18 01:30:38  來源：科技日報  作者：佚名  責任編輯：羅伯特

　　■最新發(fā)現(xiàn)與創(chuàng)新

　　科技日報綿陽10月17日電 （蒲江 記者盛利）17日由四川省科技廳、四川省經(jīng)信委組織的短波長X射線衍射分析技術(shù)科技成果暨短波長X射線體應(yīng)力無損分析儀新產(chǎn)品鑒定會，在四川江油舉行。經(jīng)現(xiàn)場鑒定，由中國工程物理研究院研究員、中國物理學會X射線衍射聯(lián)合委員會主任麥振洪，清華大學材料學院院長張政軍等9位專家組成的鑒定委員會一致同意該技術(shù)通過科技成果驗收，屬國際首創(chuàng)。

　　短波長X射線體應(yīng)力無損分析儀是由中國工程物理研究院材料研究所、四川藝精科技集團有限公司、中國兵器工業(yè)第五九研究所聯(lián)合完成的用于測量材料殘余應(yīng)力的分析設(shè)備。與普遍X射線應(yīng)力分析儀僅能獲得材料表層約10微米深的應(yīng)力分析結(jié)果不同，該分析儀采用W靶或U靶X射線源，特征X射線波長分別為0.2埃和0.1埃左右，測試鋁材當量厚度大于40毫米，無應(yīng)力鐵粉測試誤差小于20兆帕。該分析儀可在無損的情況下對材料內(nèi)部應(yīng)力分布情況進行定量分析，與同類型的中子衍射、同步輻射裝置等大型裝置相比，其造價低廉、使用方便。

　　“該技術(shù)屬國際首創(chuàng)，獲得2項國際專利授權(quán)，4項國內(nèi)專利授權(quán)?！辫b定意見指出，研究團隊采用特殊的X射線光路設(shè)計，改善了入射X射線強度的衰減。采用透射式和反射式的光路設(shè)計，獲取材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)沿深度分布的信息，可滿足工程構(gòu)件的測試需求。

　　該分析儀可廣泛應(yīng)用于裝備制造、國防軍工等領(lǐng)域。目前已創(chuàng)造經(jīng)濟效益696萬元，研發(fā)團隊已形成年產(chǎn)15臺套的能力。

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